header

Aktuelles

Neues Rasterelektronenmikroskop erlaubt komfortable Forschung

26. June 2014

Mit einem Symposium im Hörsaal der Pathologie in der Strempelstraße ist am Donnerstag (26.6.14) ein neues Rasterelektronenmikroskop für die Forschung eingeweiht worden. Das neue Großgerät war von der Universitätsmedizin unter Federführung des Elektronenmikroskopischen Zentrums und Arbeitsgruppen der Universität beantragt worden. Die Mittel für das Gerät im sechsstelligen Bereich kommen jeweils zur Hälfte von der Deutschen Forschungsgemeinschaft  (DFG) und vom Land. „Wir sind sehr froh darüber“, sagt Prof. Dr. Emil Reisinger, Dekan und Wissenschaftlicher Vorstand der Universitätsmedizin. „Das Gerät ersetzt das bisherige Rasterelektronenmikroskop – es war seit 23 Jahren für unsere Forscher im Einsatz.“

Das neue Gerät kann einen sehr feinen leistungsstarken Elektronenstrahl erzeugen, mit dem hohe Auflösungen bis in den Nanometerbereich und darunter erzielt werden können. Das war bisher nicht möglich. Das Mikroskop ist außerdem mit einem Detektor ausgestattet, der die Zusammensetzung der Elemente auf der Probenoberfläche analysiert. „Nun können sehr viele verschiedene Probenarten aus den beteiligten Fachdisziplinen untersucht werden“, sagt PD Dr. Marcus Frank, Leiter der Medizinischen Biologie und des Elektronenmikroskopischen Zentrums.

Neben der hochaufgelösten Struktur der Proben kann auch ihr Materialkontrast mit speziellen Detektoren dargestellt werden. Die Forscher können Probenoberflächen nun auch dreidimensional vermessen. Müssen Zell- und Materialoberflächenstrukturen charakterisiert werden – besonders bei neuen Biomaterialoberflächen mit Zell- und mikrobieller Besiedlung – übernimmt es das Gerät. Das ist von Bedeutung, wenn etwa neue Implantat-Materialien entwickelt werden oder die Effekte von Oberflächenbehandlungen sichtbar gemacht werden sollen. Weiteres Anwendungsgebiet ist die Beschreibung neuer Arten anhand ihrer elektronenmikroskopisch erfassbaren Merkmale in der Zoologie und Botanik. 

Neu: Auch nichtleitende Proben können betrachtet werden, ohne dass der Forscher vorher leitfähige Schichten aufbringt. Damit können auch wertvolle Referenzexemplare  neuer Arten oder Materialien ohne Veränderung ihrer Oberflächen untersucht werden, dies war im alten Gerät bisher nicht möglich. Das Gerät erlaubt eine engere Verbindung licht- und elektronenmikroskopischer Untersuchungen: Durch spezielle Halterungen kann dieselbe Probenstelle eines zuvor im Lichtmikroskop untersuchten Präparats danach gleich im Rasterelektronenmikroskop weiteranalysiert werden.